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测量10GEPON芯片组的测试方案和工具

2019.06.07 来源: 浏览:7次

测量10GEPON芯片组的测试方案和工具问世

测量10GEPON芯片组的测试方案和工具问世

运用安立公司的MP1800A系列误码测试仪成功测量K-micro公司的 CTXL1 10G EPON SerDes 芯片, 为10G EPON系统上市铺平了道路

ASIC制造领域的领导者 K-micro公司,,和安立公司共同宣布开发出全球第一款测量分析10Gbps EPON芯片组的测量方法和工具,运用安立公司的MP1800A系列误码测试仪成功测量K-micro公司的 CTXL1 10G EPON SerDes 芯片的突发性能, 为10G EPON系统上市铺平了道路

运用这套测量方法精确测量出K-micro公司的10G EPON SerDes CTXL1芯片组突发锁定时间达到前所未有的20奈秒。“通过与拥有卓越测量技术的安立公司合作,开发了这样一套EPON芯片组的测量方案

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,用户已经为10G EPON做好了准备,现在就需要知道他们使用的芯片组是否能够满足产品的指标需求”,K-micro公司的CTO Vijay Pathak说。

评估10G EPON OLT突发模式SerDes的两个主要挑战是:

1. 误码仪只能计算净负荷数据和分隔区数据的误码,用于同步的前导数据区不应该计算误码。

2. SerDes 必须对每一个突发包保持同样的时延;或者说,误码仪必须允许不同突发包间的时延不一致。

MP1800A系列误码仪功能强大的PPG和ED模块很容易地精确测量误码率,CTXL1芯片组特有的内置自测功能能够成功地将不同突发包的时延调整到一致,这样误码仪就不需要针对不同的突发包作时延调整就可以测量误码。使用这两种边缘调整技术使得误码仪可以测量10.3125Gbps速率误码率低于1.0E-12时的突发模式锁定时间。

“K-micro公司10G EPON芯片组锁定时间的成功测量是10G EPON投入应用的重大一步” 安立公司的Kim Collins介绍说,通过两个公司的紧密合作,克服了以前难于测量这种技术的困难,客户可以得到希望的测试结果。

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